브랜드 이름: | ZMSH |
모델 번호: | 3C-N SIC |
MOQ: | 10pc |
가격: | by case |
배달 시간: | 30 일 안에 |
지불 조건: | t/t |
2인치 4인치 6인치 8인치 5×5 mm 10×10 mm 4H-SiC 기판 3C-N 타입 MOS 등급
3C-N 타입 탄화규소(3C-SiC) 기판은 입방 결정 구조(3C)를 기반으로 하는 광대역 반도체 재료로, 액상 에피택시(LPE) 또는 물리 기상 수송(PVT)을 통해 제조됩니다. 2인치에서 8인치까지의 표준 크기뿐만 아니라 맞춤형 크기(예: 5×5 mm, 10×10 mm)도 지원합니다. 주요 장점으로는 높은 전자 이동도(1,100 cm²/V·s), 넓은 밴드갭(3.2 eV), 높은 열전도율(49 W/m·K) 등이 있으며, 고주파, 고온, 고전력 장치 응용 분야에 이상적입니다.
1. 전기적 성능
2. 열적 및 화학적 안정성
3. 공정 호환성
1. 5G 통신 및 RF 장치
2. 전기 자동차(EV)
3. 산업 및 에너지 시스템
4. 항공 우주 및 방위
등급 | Zero MPD 생산 등급(Z 등급) | 표준 생산 등급(P 등급) | 더미 등급(D 등급) | ||
직경 | 145.5 mm–150.0 mm | ||||
두께 | 350 μm ±25 μm | ||||
웨이퍼 방향 | 오프 축: 4H/6H-P의 경우 [1120] 방향으로 2.0°-4.0° ± 0.5°, 3C-N의 경우 〈111〉 ± 0.5° | ||||
** 마이크로파이프 밀도 | 0 cm⁻² | ||||
** 저항 | p-type 4H/6H-P | ≤0.1 Ω·cm | ≤0.3 Ω·cm | ||
n-type 3C-N | ≤0.8 mΩ·cm | ≤1 mΩ·cm | |||
주요 플랫 방향 | 4H/6H-P | {1010} ±5.0° | |||
3C-N | {110} ±5.0° | ||||
주요 플랫 길이 | 32.5 mm ±2.0 mm | ||||
보조 플랫 길이 | 18.0 mm ±2.0 mm | ||||
보조 플랫 방향 | 실리콘 면 위, 주 플랫에서 90° CW ±5.0° | ||||
가장자리 제외 | 3 mm | 6 mm | |||
LTV/TIV/Bow/Warp | ≤2.5 μm/≤5 μm/≤15 μm/≤30 μm | ≤10 μm/≤15 μm/≤25 μm/≤40 μm | |||
* 거칠기 | 연마Ra≤1 nm | ||||
CMPRa≤0.2 nm | Ra≤0.5 nm | ||||
고강도 광에 의한 가장자리 균열 | 없음 | 누적 길이 ≤10 mm, 단일 길이 ≤2 mm | |||
* 고강도 광에 의한 육각형 플레이트 | 누적 면적 ≤0.05% | 누적 면적 ≤0.1% | |||
* 고강도 광에 의한 다형성 영역 | 없음 | 누적 면적 ≤3% | |||
육안 탄소 포함 | 없음 | 누적 면적 ≤0.05% | |||
# 고강도 광에 의한 실리콘 표면 스크래치 | 없음 | 누적 길이 ≤1×웨이퍼 직경 | |||
고강도 광에 의한 가장자리 칩 | 너비 및 깊이가 0.2mm 이상인 경우 허용되지 않음 | 5개 허용, 각 ≤1 mm | |||
고강도에 의한 실리콘 표면 오염 | 없음 | ||||
포장 | 다중 웨이퍼 카세트 또는 단일 웨이퍼 컨테이너 |
참고:
* 결함 제한은 가장자리 제외 영역을 제외한 전체 웨이퍼 표면에 적용됩니다.
* 스크래치는 Si 면에서만 확인해야 합니다.
Q1: 2인치, 4인치, 6인치, 8인치, 5×5mm 및 10×10mm 3C-N 타입 SiC 기판의 주요 응용 분야는 무엇입니까?
A: 높은 전자 이동도와 열적 안정성으로 인해 5G RF 모듈, EV 전력 시스템 및 고온 산업 장치에 널리 사용됩니다.
Q2: 3C-N 타입 SiC 기판은 성능 면에서 기존 4H-SiC와 어떻게 비교됩니까?
A: 3C-N 타입 SiC는 낮은 저항과 더 나은 고주파 성능(최대 2.7×10⁷ cm/s 전자 속도)을 제공하여 RF 및 소형 전력 전자 장치에 이상적입니다.
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